【英文标准名称】:Plastics-Polyurethanerawmaterials-Determinationofisocyanatecontent(ISO14896:2009);EnglishversionofDINENISO14896:2009-07
【原文标准名称】:塑料.聚氨酯原材料.异氰酸酯的测定(ISO14896:2009),DINENISO14896:2009-07英文版本
【标准号】:ENISO14896-2009
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2009-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:基底材料;;化学分析和试验;化学分析和测试;浓缩;定义;耐久性;含量测定;异氰酸酯;数学计算;测量;测量技术;分析方法;塑料;聚氨酯;原材料;试剂;试验报告
【英文主题词】:Basematerials;Basicmaterials;Chemicalanalysisandtesting;Concentration;Definitions;Determinationofcontent;Isocyanates;Mathematicalcalculations;Measurement;Measuringtechniques;Methodsofanalysis;Plastics;Polyurethane;Rawmaterials;Reagents;Testreport
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:83_080_20
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Aerospaceseries-SteelFE-PA3901(X2CrNi19-11)-Softened-Forgings-D100mm;GermanandEnglishversionEN2466:2009
【原文标准名称】:航空航天系列.钢FE-PA3901(X2CrNi19-11).退火.锻件.De≤100mm.德文版本和英文版本EN2466-2009
【标准号】:EN2466-2009
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2009-09-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:验收规范;航空航天运输;航空运输;化学成分;交货条件;尺寸规格;模锻件;锻件;硬度;材料;材料数据;机械性能;多语种的;物理性能;特性;自由锻件;航天运输;钢;材料强度;熔炼类型
【英文主题词】:Acceptancespecification;Aerospacetransport;Airtransport;Chemicalcomposition;Deliveryconditions;Dimensions;Dropforgings;Forgings;Hardness;Materials;Materialsdata;Mechanicalproperties;Multilingual;Physicalproperties;Properties;Smithhammerforgings;Spacetransport;Steels;Strengthofmaterials;Typeofmelting
【摘要】:
【中国标准分类号】:V11
【国际标准分类号】:49_025_10
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学 >>
集成电路、微电子学
|
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1992-01-02 |
| 实施日期： | 1993-08-01 |
| 首发日期： | 1992-12-17 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海件五厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-13 |
| 页数： | 平装16开， 页数：19， 字数：34千字 |
| 书号： | 155066.1-9730 |
适用范围
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学